¿Qué pasa si el CP y CPK son iguales?
¿Qué pasa si el CP y CPK son iguales?
Utilice el Cpk para evaluar la capacidad de subgrupos/corto plazo del proceso, considerando tanto su ubicación como su dispersión. Si el Cp y el Cpk son aproximadamente iguales, entonces el proceso está centrado entre los límites de especificación. Si el Cp y el Cpk son diferentes, entonces el proceso no está centrado.
¿Qué significa CPU y CPL?
CPL: Capability performance to lower limit. Mide que tan cerca la media se encuentra del límite inferior. CPU: Capability performance to upper limit. Mide que tan cerca la media se encuentra del límite superior.
¿Qué mide el índice K?
Índice de centrado del proceso (K) Para ello, utilizamos el índice de centrado del proceso, que mide la diferencia entre su media y el valor objetivo (nominal) para dicha característica de calidad: Podemos ver, entonces, que el signo de K define de qué lado del valor nominal N está la media del proceso.
¿Qué es el índice K?
Es un indicador de qué tan centrada está la distribución de un proceso con respecto a las especificaciones de una característica de calidad dada.
¿Qué es CP en estadistica?
El Cp suele describirse como la capacidad que el proceso podría alcanzar si estuviera centrado perfectamente entre los límites de especificación.
¿Cuál es el proposito del metrico CP?
El Cp es una medida de la capacidad potencial del proceso. El Cp es una relación que compara dos valores: La dispersión de especificación (LES – LEI) La dispersión del proceso (la variación de 6 σ) con base en la desviación estándar dentro de los subgrupos.
¿Cuál es el proposito de la grafica p?
Utilice la Gráfica P para monitorear la proporción de elementos defectuosos donde cada elemento se pueda clasificar en una de dos categorías, como por ejemplo pasa o no pasa.
¿Cuál es el proposito de las gráficas?
El gráfico U se utiliza cuando no es posible tener siempre la misma unidad de medida para contar el número de defectos (o noconformidades, o clientes, etc…). Entonces, se controla el número medio de defectos por unidad de medida.